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  • X-RAY台式测厚仪XDL / XDLM / XDAL
    X-RAY台式测厚仪XDL / XDLM / XDAL

    X-RAY台式测厚仪XDL / XDLM / XDAL XDL / XDLM / XDAL 凭借电机驱动(可选)与自上而下的测量方向,XDL® 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号,从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器

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  • X-RAY XDL210荧光测厚仪
    X-RAY XDL210荧光测厚仪

    X-RAY XDL210荧光测厚仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

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  • FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析测厚仪
    FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析测厚仪

    FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析测厚仪 FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列与XUL和XULM系列密切相关:两者都使用相同的接收器,准直器和滤片组合。配备了标准X射线管和固定准直器的XDL仪器非常适合大工件的测量。

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  • 菲希尔X-RAY荧光测厚仪各种材料分析仪器
    菲希尔X-RAY荧光测厚仪各种材料分析仪器

    菲希尔X-RAY荧光测厚仪各种材料分析仪器 X 射线荧光分析仪器,具有的精度与广泛的适用性。FISCHER 产品包含了满足不同领域测试需求的高性能仪器。

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  • FISCHERSCOPE进口菲希尔X射线镀层分析仪XDL 210
    进口菲希尔X射线镀层分析仪XDL 210

    进口菲希尔X射线镀层分析仪XDL 210 XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。X射线荧光光谱仪,用于对保护和装饰涂料,量产的零件和印制板上的涂层进行手动或自动厚度测量

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