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浅析FISCHER膜厚仪的工作原理
点击次数:205 发布时间:2021-12-13 返回
   FISCHER膜厚仪对材料表面起保护,装饰作用的覆盖层,如涂层,镀层,敷层,贴层,化学生成膜等,在一些国家和国际标准中称为覆层。
  覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确要求。
  覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
  X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
  FISCHER膜厚仪随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的膜厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用最广泛的膜厚仪器。
  采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。
联系人:
王存帆 
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